植込み型心臓デバイス合併症率、施設間で最大3倍の差、PMが多数を占める

【背景】

植込み型心臓電気デバイス（CIED）は合併症のリスクがあるが、施設ごとの合併症率のばらつきや、それが医療の質にどう影響するかは不明だった。本研究は、CIED植込み後のリスク調整済み合併症率（RSCR）の施設間差を評価した。

【結果】

81,304例中8.2%に主要合併症が発生した。ICDはPMより合併症率が高かった（10.04% vs 7.76%）が、全合併症の76.5%はPMによるものだった。CIEDを25例以上植え込んだ施設では、RSCRの中央値は8.1%だが、5.3%から14.3%と大きくばらつき、22施設で全国平均と有意差があった。

【臨床へのインパクト】

CIED植込み後の合併症は施設間で大きく異なり、医療の質にばらつきがある可能性を示唆している。特にペースメーカー（PM）が合併症の大半を占めるため、PM関連合併症に対する集中的な介入が必要である。この結果は、CIED植込み施設の質評価や、合併症予防のための臨床的・政策的介入の必要性を高めるだろう。

本記事は AI（Gemini）が PubMed 上の英語 Abstract を要約したものです。臨床判断には必ず原著をご確認ください。