一過性脳虚血発作後の脳卒中リスク、長期にわたり高率だが近年は減少傾向

【背景】

一過性脳虚血発作（TIA）後の脳卒中リスクを正確に把握することは、予防策の改善と脳卒中負担軽減に不可欠です。本研究は、TIAの発生率、TIA後の脳卒中発症時期と長期リスク、およびその経年変化を明らかにすることを目的としました。

【結果】

TIAの発生率は1.19/1000人年でした。TIA後10年間の脳卒中累積ハザードはTIA群で0.46（95% CI, 0.39-0.55）と、非TIA対照群の0.09（95% CI, 0.08-0.11）と比較して有意に高値でした（HR 4.37, 95% CI, 3.30-5.71）。TIA後の90日以内の脳卒中リスクは、1948-1985年の16.7%から2000-2017年には5.9%へと有意に減少していました。

【臨床へのインパクト】

TIA後の脳卒中リスクは依然として高いものの、近年ではそのリスクが低下していることが示唆されました。これは、TIA後の管理や予防策の進歩が寄与している可能性があります。日本の臨床現場においても、TIA患者に対する脳卒中予防の取り組みを継続しつつ、最新のガイドラインに基づいた治療介入が、脳卒中発症率のさらなる低下に繋がる可能性を示唆しています。

本記事は AI（Gemini）が PubMed 上の英語 Abstract を要約したものです。臨床判断には必ず原著をご確認ください。